Viele IoT-Elektronikprodukte erhalten Informationen in analoger Form und wandeln diese für die Übertragung in digitale Signale um. Das erfordert den Einsatz von integrierten digitalen ICs. Diese Halbleiter sind äußerst kostensensitiv und die Märkte unterliegen einem starken Wettbewerb. Außerdem werden digitale ICs in unterschiedlichsten Anwendungen genutzt, von denen viele strengen Sicherheits- und Zuverlässigkeitsstandards unterliegen, die hohe Anforderungen an die Leistung und Genauigkeit dieser Bauteile stellen. Aus diesen Gründen werden digitale ICs normalerweise in der Produktion mit hohem Produktmix und in kleinen Stückzahlen hergestellt, was sehr vielseitige und kostengünstige Testlösungen erfordert.

Aufgrund der flexiblen Architektur kann die EVA100 Digital Solution alle für den Test digitaler ICs benötigten Funktionen ausführen. Hierzu gehören auch die Pattern-Generierung und der Pattern-Vergleich für die Evaluierung von Bauteil-Designs, die digitale Steuerung, Messungen an Stromversorgungen und analoge 18-Bit-Messungen. Das System kann alle diese Messungen mit Datenübertragungsraten von 100 Mbps und Taktraten bis zu 200 MHz durchführen, was eine hohe Testeffizienz gewährleistet.

Die EVA100 Digital Solution nutzt die intuitive Bedienoberfläche (GUI) der Original-Plattform, sodass der Anwender keine Kenntnisse höherer Programmiersprachen benötigt. Wie bei den anderen Systemen der EVA100 Produktfamilie, einschließlich dem EVA100 Production Modell, das im November vorgestellt wurde, ermöglicht das neue System die Realisierung einer einheitlichen Messumgebung im Unternehmen, von der Design-Evaluierung bis hin zur Produktion. Diese Effizienz-steigernde Standardisierung ist derzeit mit keinem anderen am Markt erhältlichen Messinstrument oder System erreichbar.

Außerdem ist die EVA100 Digital Solution um 40 Prozent kleiner als das erste EVA100 Messsystem. Es spart Zeit und Geld durch die einfachere Bedienung und vereinfachte periodische Wartung. Durch das Downscaling der Architektur erreicht die EVA100 Digital Solution sowohl eine höhere Zuverlässigkeit als auch eine branchenführende Produktivität. Das kompakte System lässt sich mit bis zu 256 Messkanälen ausstatten, wobei bis zu vier EVA100 Digital Solution Einheiten zusammengeschaltet werden können, um Konfigurationen von bis zu 1.024 Digitalkanälen zu realisieren. Damit unterstützt das System auch eine schnelle Anpassung auf veränderte Fertigungsvolumen entsprechend den Marktanforderungen, wenn die Fertigungslinie beispielsweise auf andere Bauteiltypen und Produktionsmengen umgestellt wird. Zudem kann der Anwender sein Testsystem flexibel für Logikschaltkreise und IoT-Bauteile optimieren, von denen viele DFT nutzen. Außerdem wendet das Messsystem dieselben Testprogramme in der Entwicklung und Evaluierung sowie in der Produktion an, sodass der Programm-Code nicht mehr geändert werden muss und die Time-to-Market für neue Bauteile verkürzt werden kann.

"Das große Interesse an IoT-Konzepten und -Produkten, von der Automobilelektronik bis hin zu 'intelligenten Städten' hat zu einer steigenden Nachfrage nach elektronischen Bauteilen, wie Sensoren, geführt", sagt Satoru Nagumo, Managing Executive Officer bei Advantest Corporation. "Dadurch dass die Leistungsfähigkeit unserer EVA100 Plattform auf den Test digitaler ICs ausgeweitet wurde, bietet Advantest jetzt für dieses Marktsegment dieselben optimierten Testmöglichkeiten wie für die anderen Marktsegmente an."

Quelle: Advantest Europe GmbH